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新型環(huán)保型奧氏體晶粒度侵蝕劑

簡要描述：新型環(huán)保型奧氏體晶粒度侵蝕劑金屬流線顯示劑，用于鋼的奧氏體晶粒度、金屬流線、偏析顯示，滿足 GB/T 6394、ASTM E 112
標準，具有以下特點：
1. 替代飽和KWS試劑，不屬于易化學(xué)品管制范圍；
2. 不需二次熱處理，直接浸蝕，可顯示碳鋼、合金鋼的原奧氏體晶界，降低能耗，提高檢測效率；
3. 弱腐蝕性，低毒性，使用安全。

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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-01-21
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新型奧氏體晶粒度浸蝕劑

新型晶粒度浸蝕劑，用于鋼的奧氏體晶粒度、金屬流線、偏析顯示，滿足 GB/T 6394、ASTM E 112

標準，具有以下特點：

? 替代飽和KWS試劑，不屬于易化學(xué)品管制范圍；

? 不需二次熱處理，直接浸蝕，可顯示碳鋼、合金鋼的原奧氏體晶界，降低能耗，提高檢測效率；

? 弱腐蝕性，低毒性，使用安全。

表示晶粒大小的尺度叫晶粒度，常用單位體積（或單位面積）內(nèi)的晶粒數(shù)目或晶粒的平均線長度（或直徑）表示。工業(yè)生產(chǎn)上采用晶粒度等級來表示晶粒大小。標準晶粒度共分12級，1～4級為粗晶粒，5～8級為細晶粒，9～12級為超細晶粒度。

金屬結(jié)晶時，每個晶粒都是由一個晶核長大而成的，因此晶粒的大小取決于晶核的數(shù)目和晶粒長大速度的相對大小。晶核的數(shù)目用形核率表示。形核率越大，單位體積中晶核的數(shù)目越多，晶粒越細小。長大速度越小，長大過程中形成的晶核批次越多，晶核數(shù)目越多，因而晶粒越細小。反之，形核率越小而長大速度越大，則晶粒越粗大。因此晶粒度的大小取決于形核率N和長大速率G之比，比值蕓N/G越大，晶粒越細小。